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                導電粒子檢查金相顯微鏡

                作者:hgo 來源:原創 日期:2023-2-20 10:08:41 人氣:103

                手機、電腦、觸摸屏等電子產品電路的連通性和導電粒子有關,導電粒子檢查金相顯微鏡也隨之而生,下面請大家一起了解導電粒子檢查金相顯微鏡。

                導電粒子檢查金相顯微鏡屬于高倍顯微鏡,通過微分干涉觀察方法即可觀察導電粒子,具體應該如何判斷呢?下面簡單和大家介紹導電粒子。

                ●導電粒子位于基板和芯片之間,通過。

                ●導電粒子數量多少,電路穩定性差。

                ●導電粒子分布不均勻,將會出現部分區域斷路,電路不通。

                ●導電粒子熱壓過小,將與兩邊接觸面積少,導電性差,反之,熱壓過大,導電粒子破裂,將失去導電性。

                由此通過導電粒子檢查金相顯微鏡分析的時候,我們就可以根據以上幾點來觀察,給大家展示幾張匯光科技導電粒子檢查金相顯微鏡拍照圖。

                導電粒子分布,數量,是否破裂都非常清楚吧。您如果也需要導電粒子檢查,可以先寄樣品來測試,當然也歡迎大家來匯光科技現場試樣,期待您的光臨。

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