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                金相顯微鏡
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                半導體檢查顯微鏡 MX12R
                半導體檢查顯微鏡 MX12R

                產品型號:MX12R
                發布時間:2017-12-14 16:44:22
                訪問次數:116 次

                MX12R 介紹

                半導體檢查顯微鏡 MX12R

                全新的MX12R半導體 \FPD 檢查顯微鏡,最大支持 300mm 晶圓及 17英寸液晶面板的檢查,含 4、6、8、12英寸多種

                轉盤,可適用不同尺寸的晶圓檢查。人機工程學設計全面提升,為用戶提供更加舒適、靈活、快捷的操作體驗。

                仰角可調觀察筒

                0-35°觀察角度可調,適合不同身高的用戶,降低了對工作環境的要求,讓不同的使用者都能找到最佳的觀察角度,減輕

                了長時間工作帶來的不適與疲勞,大幅度提高工作效率。


                全新離合驅動式載物臺

                MX12R采用離合式手柄,用戶按下離合扳手就可靈活移動平臺,無需長時間捏緊手柄;按下離合按鈕,取消快速移動。

                避免長時間操作出現手麻現象,并加快觀察速度。 MX12R 引入精密導軌傳動機構,移動更輕更順暢,產品更加穩定可靠。


                安全、高速的電動式物鏡轉換器

                設有前進、后退兩檔切換模式,可快速、精確定位到所需要的觀察倍率,重復定位精度高。機械式的切換模式,有效提

                升了轉換器的使用壽命。


                按鍵觸手可及,助您提高工作效率

                MX12R物鏡與孔徑光闌采用全新的電動控制系統,其操作按鍵位于儀器正前方,讓您觸手可及。人性化的電動設計不僅

                避免了頻繁的手動操作步驟,也使您的檢測工作也更加精確、靈活。


                防震支架設計

                機身由六端支架支撐,低重心、高穩定性全金屬機架,具備強效的抗震功能,確保像質穩定。


                豐富的應用領域

                MX12R集成了明場、暗場、偏光、DIC 等多種觀察功能。 廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件

                金屬陶瓷部件、精密磨具等檢測。


                技術規格

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